Sitorus, Leonard Alexander (1222037) (2017) Perancangan dan Realisasi Alat Penjejak Kurva Karakteristik Komponen Semikonduktor - Design and Realization of Semiconductor Curve Tracer. Undergraduate thesis, Universitas Kristen Maranatha.
|
Text
1222037_Abstract_TOC.pdf - Accepted Version Download (208Kb) | Preview |
|
Text
1222037_Appendices.pdf - Accepted Version Restricted to Repository staff only Download (1314Kb) |
||
|
Text
1222037_Chapter1.pdf - Accepted Version Download (382Kb) | Preview |
|
Text
1222037_Chapter2.pdf - Accepted Version Restricted to Repository staff only Download (843Kb) |
||
Text
1222037_Chapter3.pdf - Accepted Version Restricted to Repository staff only Download (695Kb) |
||
Text
1222037_Chapter4.pdf - Accepted Version Restricted to Repository staff only Download (546Kb) |
||
|
Text
1222037_Conclusion.pdf - Accepted Version Download (141Kb) | Preview |
|
|
Text
1222037_Cover.pdf - Accepted Version Download (281Kb) | Preview |
|
|
Text
1222037_References.pdf - Accepted Version Download (124Kb) | Preview |
Abstract
Komponen semikonduktor seperti transistor, dioda dan dioda zener merupakan komponen elektronika yang sudah sangat sering digunakan dalam berbagai rangkaian elektronika, sehingga hampir di setiap rangkaian elektronika dapat ditemukan komponen-komponen semacam ini. Setiap komponen mempunyai kurva karakteristik dari komponen yang digunakan. Kurva karakteristik suatu komponen merupakan hal yang sangat penting, karena dari kurva ini dapat diketahui karakteristik dari komponen tersebut seperti, nilai beta dari transistor, tegangan forward suatu dioda, dan beberapa karakteristik lainnya. Karakteristik dari komponen digunakan sebagai acuan agar fungsi yang dihasilkan dari komponen tersebut dapat efektif dan penggunaannya tidak salah. Pada tugas akhir ini alat dirancang untuk dapat menampilkan kurva karakteristik dari komponen Bi-polar Junction Transistor, Field Effect Transitor, diode, dan zener diode. Untuk pengujian komponen transistor diperlukan suatu pembangkit sinyal tangga dan sweep voltage untuk dapat menampilkan kurva. Sedangkan untuk pengujian dioda, hanya diperlukan sebuah sweep voltage dan resistansi yang dipasang secara seri untuk dapat menampilkan kurva karakteristik. Hasil pengujian terhadap komponen berhasil dilakukan, kurva karakteristik dari komponen transistor maupun dioda dapat ditampilkan pada layar osiloskop.
Item Type: | Thesis (Undergraduate) |
---|---|
Uncontrolled Keywords: | Penjejak kurva, kuva karakteristik, semikonduktor, transistor, dioda |
Subjects: | T Technology > TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering |
Divisions: | Faculty of Engineering > 22 Electrical Engineering Department |
Depositing User: | Perpustakaan Maranatha |
Date Deposited: | 21 Mar 2017 03:31 |
Last Modified: | 21 Mar 2017 03:31 |
URI: | http://repository.maranatha.edu/id/eprint/22074 |
Actions (login required)
View Item |