Meredam White Noise dengan Binary Phase Shift Keying

Yusuf, Herawati and Cipto, Eko and Garniwa, Iwa (2008) Meredam White Noise dengan Binary Phase Shift Keying. In: The Asia Pacific Conference on Art, Science, Engineering & Technology, May 19-22, 2008, Solo.

[img]
Preview
Text
Meredam White Noise dengan Binary Phase Shift Keying.pdf - Published Version

Download (3517Kb) | Preview

Abstract

Untuk mempertahankan keaslian data yang dikirim atau diterima, maka perlu dilakukan pengujian dengan kepekaan signal terhadap white noise, sistem Binary Phase Shift Keying (BPSK) mampu meredam white noise -20, -10, 10, 20 Db, di mana sinyal yang pancarkan dipengaruhi oleh noise nonstasioner. Pada sistem ini, sinyal yang dikirim tidak mengganggu data output, dan mampu mempertahankan data input yang sama dengan data output, dan aman sehingga jumlah bit error nol, untuk frekuensi carrier berapa 220 sampai 990 Mhz. Bila frekuensi yang dipakai lebih dari 30 MHz dalam menggunakan teknik modulasi menggunakan BPSK, SNR white noise -50 db pada sistem spread spectrum direct sequence dapat diredam, sehingga diperoleh sinyal output akan sama dengan sinyal input. Sistem BPSk, memiliki kemampuan khusus untuk menjamin kerahasiaan informasi yang dikirim pada sistem komunikasi. Sistem ini menggunakan deretan kode dari Pseudonoise Random Generator (PRG) sehingga spread spectrum direct sequence menggunakan teknik modulasi binary phasa shift keying tahan terhadap gangguan berupa noise nonstasioner sedangkan terhadap gangguan berupa white noise pada level SNR 14, sistem ini memiliki besar bit error rate terkecil 0,0180, dan terbesar 0.4770. Informasi menyebar dengan pola yang acak berulang secara periodik. Hal ini menyebabkan sistem informasi sukar untuk dilacak. Hasil penelitian menunjukkan bahwa sistem spread spectrum direct sequence menggunakan teknik modulasi binary phasa shift keying (BPSK) tahan terhadap gangguan berupa noise nonstasioner sedangkan terhadap gangguan berupa white noise pada level SNR tertentu, sistem ini memiliki besar bit error rate (BER) yang sangat kecil.

Item Type: Conference or Workshop Item (Paper)
Subjects: T Technology > TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
Depositing User: Perpustakaan Maranatha
Date Deposited: 25 Jul 2013 04:07
Last Modified: 25 Jul 2013 04:07
URI: http://repository.maranatha.edu/id/eprint/3778

Actions (login required)

View Item View Item